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Measurement Mode-测量模式

测量模式是测量硬件的一种工作模式。通常如果测量装置(如 CMU*VMU*)集成在测试系统中,就可以按测量模式工作。

对于每个测试步骤,测量装置会提供测试点的电流和电压值,从而间接提供有效负载电阻值。该值通过欧姆定律来确定。和比较器模式一样,UIG* 以电流控制或电压控制模式工作。此外,应准确测量相应另一个值,并计算精确负载电阻。这样将确定的值与编程阈值比较,以便将测试步骤评为通过或失败。

例如,在开路测试中,将提供可编程恒定电流,以测量待测物 (UUT) 的电压降。在短路测试中,发生器提供恒定电压,以便测量浮动电流。

对于组件测试,可以在 WEETECH 的一些测试系统中(W 434W 444W 454 W 454 HV / W 454 SHV)对频率进行编程,以便测量电阻 (R)、电感 (L) 和电容 (C) 组合(参见 RLC 测量)。

比较器模式

实际这不是真实意义上的测量模式,但通过比较已知值(发生器编程电流或电压),可以通过定性方式来确定是否达到目标值。

测量外部电压

外部电压指外部电源的电压,测试时外部电源与待测物相连。在运行功能测试时,通常必须提供外部电压。这些电压的测量由测试系统的 VMU 执行,可能需要这些电压值才能确保待测物完整测试。

 

*CMU = 电流测量装置
*VMU = 电压测量装置
*UIG = UI 发生器